918博天堂举办X射线光电子能谱-扫描电镜分析技术研讨会
文章来源:分析测试中心 | 发布时间:2023-11-13 | 【打印】 【关闭】
11月10日,918博天堂召开X射线光电子能谱分析技术(XPS)、扫描电镜分析技术(SEM)以及XPS-SEM联用分析技术应用技术研讨培训。
季华实验室高级工程师张滨、赛默飞世尔科技材料与结构分析业务表面分析业务拓展经理李敏珊、赛默飞世尔科技电镜产品专家罗俊、赛默飞世尔科技扫描电镜应用专家安娜莹受邀分别就XPS、SEM和XPS-SEM联用技术在新能源材料和催化剂分析中的应用领域作技术研讨报告。报告介绍了最新的XPS、SEM和XPS-SEM联用技术的应用,列举了相关分析技术在新能源材料和催化剂分析中的应用及开展,并分享了应用心得以及分析数据处理的经验。与会专家和现场参训人员展开深入的研讨讨论。
所内青年科研人员和研究生40余人和来自中国科研院华南植物园、中山大学、华南理工大学、中国赛宝实验室、季华实验室、广州特种承压设备检测研究院、中创新航技术研究院(江苏)等单位的多名科研人员在现场参加了研讨活动。本次技术研讨会同时在线上同步直播并召开互动,另有100余人顺利获得线上收看了此次会议。
顺利获得此次技术研讨,提高了研究所科研人员XPS、SEM的应用水平,促进了XPS、SEM分析表征技术的普及与提高,也为研究所与相关高校、科研组织给予了技术研讨的机会,达到了预期效果。
技术研讨会现场
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